【終了】機器利用講習会  走査型電子顕微鏡(SEM)の使い方

 走査型電子顕微鏡は微小部分の観察や成分分析に使用する装置であり、材料開発や異物解析、破壊や腐食等の事故解析等幅広い目的で使用されます。
 そこで今回の機器利用講習会では、走査型電子顕微鏡の基本的な使い方に関する講習会を開催します。滋賀県東北部工業技術センター彦根庁舎に導入している低加速走査型電子顕微鏡(IT-500)の製造元である日本電子株式会社より講師をお迎えし、SEMの原理や、試料製作のポイント等について講演していただきます。
 日頃、使い方や試料の作り方でお困りの方は、ぜひご参加ください。

日 時    令和3年11月18日(木)13:30~17:00

■場 所    滋賀県東北部工業技術センター【彦根庁舎】
(彦根市岡町52番地)

■参加費    無料

■定 員    20名 (デモンストレーション 希望者5名まで定員となりました。)

■内 容     
13:30~14:30 走査型電子顕微鏡の原理と特徴
14:40~16:00 走査型電子顕微鏡での上手に観察するためのポイント
              ①きれいな像を得るための試料づくり
              ②高倍率観察にコツ

16:10~17:00  低加速走査型電子顕微鏡のデモンストレーション

■申込み    
下記申し込みフォームからお申込みください。
締切:令和3年11月16日(火)

■問合先    
滋賀県東北部工業技術センター 金属材料係
TEL 0749-22-2325(安田、平尾)

低加速走査型電子顕微鏡は、公益財団法人JKAの競輪補助を受けて令和元年度に導入しました。
※新型コロナウイルス感染症の状況によっては中止となる場合があります。

低加速走査型電子顕微鏡(IT-500)の仕様

  • SEM観察と元素分析が同じモニター上で表示されます。
  • 試料導入時にデジタルカラー写真を撮影するため、観察視野を簡単に探すことができます。

走査型電子顕微鏡
□加速電圧:0.3~30kV
□撮影倍率:×5~300,000(実用×20,000)
□真空モード:高真空、低真空(10~650Pa)
□検出器:二次電子、反射電子

元素分析
□分析方法:エネルギー分散型X線分析
□検出可能元素:Be~U
□分析方法:点分析、線分析、面分析、元素マッピング